GOM三维扫描仪光学量测技术的方法

2021-04-14 09:00:56

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GOM三维扫描仪经过将接触式测量设备安装在机械臂上的各种可移动型尝试，了解到接触式测量已无法满足其需求，是时候重新考虑所采用的测量技术了。

通过投资一台GOM三维扫描仪，得以实现从接触式测量到光学测量技术的转变。这是朝着公司保持技术领先这一目标迈出的重要的一步。

高精度GOM三维扫描仪以其快速准确的测量数据实现了公司的标准。对于不同尺寸和表面特征的组件，甚至是复杂的测量任务，GOM光学系统提供：

·高数据质量的准确三维坐标

·参数化检测和可追溯性评估

·工件与CAD或者工件到工件的全表面/全域

偏差

·根据二维图纸进行评估

·截面检查，几何尺寸标注和公差

GOM三维扫描仪

(GD&T）以及趋势分析

·完整，清晰的测量报告

不论是针对测量工具、成型模具，还是测量钣金件，通过使用ATOS测量系统，立即从光学测量技术受益。

从原型开发到批量生产测量、部件分析到虚拟装配——所有这些任务均可由这一技术独自完成，相对于接触式测量，这一测量方法更为灵活、通用。

采用全场表面测量的另一好处是更容易有效校准模具，其直接效应就是使验收模具之前的迭代修改次数更少。通过使用ATOS扫描仪测量模具形状，可使CAD 数据始终保持新状态，并便于基于ATOS数据进行模具仿形铣切。

根据全场表面数据创建的测量报告除了清晰易读，另外一项好处是:对比为单个测量点生成的测试报表，这里的报告表现性更佳、可读性更强。这有利于减少讨论时间，可快速有效地实施必要的校正。