半导体测量的专业领域有哪些?了解一下
半导体产品,又被称为集成电路或者IC。在半导体测量中常用DUT来表示需要检测的IC单元。半导体测量的主要目的,是利用测试设备执行设定好的测试工作,然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范,而这些参数值会记录在规格表中。
一般测试系统会根据测试项目不同提供不同的测量参数。例如直流测试、功能测试、交流测试等。直流测试,是验证IC的电压与电流值;功能测试,是验证其逻辑功能是否正确;交流测试则是验证其是否在正确的时间点上进行设定的功能。
在半导体测量过程中通常需要测试程序来控制测试系统的硬件,并对每次的测试结果,作出判断Pass或Fail。如果测试结果符合设计的要求则Pass,相反地,不符合设计时则为Fail。所以在搭建您的测试系统时要明确您的产品需要进行哪种测试。
半导体测量程序的目的是控制测试系统硬件以某种方式保障被测器件符合它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标。
半导体测量的专业领域包括:
通过使用偏振光进行椭圆光度测定来完成薄膜分析。
du特且易于操作的蓝光,紫外光单模半导体激光器用于灵活实现微光刻处理。
利用远红外半导体激光快速调制扫描分子吸收频谱可以远程测量密闭环境下的氧气,氢气等气体。
通过分析高亮度二极管激光光束散射光,可探测粒子。
利用单模半导体激光可利用干涉原理对晶圆步进器中掩模提供较高精度校准。
利用高度相干的连续波紫外半导体激光器检测昂贵的光刻光学器件。
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