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三明半导体微聚焦X射线检测设备 AX8300S

三明半导体微聚焦X射线检测设备 AX8300S

  • 所属分类:三明集成电路 X-Ray
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2024-09-06 16:14:48
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

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产品说明  Product description


日联科技半导体X-ray

日联科技半导体X射线检测设备 —— AX8300S

具备高性能、高清晰度和高分辨率的X-Ray检测设备,主要应用于半导体、SMTDIP覆盖ICBGACSP、倒装芯片、LED等检测


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设备应用  Application


X射线检测设备检测产品内部缺陷

日联科技微焦点X-ray AX8300S采用的是免维护、长寿命的封闭式微焦点X射线源配置百万级高分辨率FPD探测器,实现高清晰实时成像


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产品特点  Product Characteristics

日联科技半导体X-ray

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客户案例  Customer Case


半导体X-ray

日联科技半导体X-ray设备AX8300S检测系统拥有强大的图像处理功能

可自动测算金线、气泡空洞比率,高速CNC巡航自动测算,半导体/BGA/IC/LED/IGBT检测等众多通用算法

可拓展(实现批量生产数据存储SPC过程控制,MES系统定制接入等功能


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安全保障  Safety Protection


X射线的辐射危害及防护

防辐射结构-射线源无动作自保护功能-接地保护


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